当前位置：北京海富达科技有限公司CN61M/KDY-1四探针电阻率/方阻测试仪（灵敏度：1μV）/中国 型号:CN61M/KDY-1

　　四探针电阻率/方阻测试仪（灵敏度：1V）/中国型号:CN61M/KDY-1库号：M122139该产品：负责人：刘：邮箱：北京中西远大科技有限公司中国北京海淀上地三街一号中黎科技园4楼

　　四探针电阻率/方阻测试仪（灵敏度：1V）/中国CN61M/KDY-1

　　CN61M/KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。

　　本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流完美体育高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔完美体育层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的产品：“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。

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